微焦点XRAY半导体检测仪器芯片检测
XRAY微焦检测系统
XDR1600WX射线检测系统应用于封装电子组件、贴片元器件和芯片的高分辨率检测。
该机型采用了微焦点X射线管和高分辨率成像系统，能满足航天、航海、电子制造、生物研宄等领域内的检测应用的要求。
技术参数：
出厂：
ANZHU
型号：
XDRAZ1600W；
数字成像视场:
160#120;130mm不同面积可订制
像素间距
49um高分辨率成像系统
A/D换；
16/bits
几何放大倍数；
高达1000；
放大倍率；
高达2000；微焦配置；
微焦光管；
进口光管515um；
管电压；
40120 kV；
管电流
0.21.0ma；
操作台上下间距：
（此处数字已屏蔽）mm
机械操作台
左、右、前、后、上、下；
机械操作台软件
软件数控调节模似；
检测区
160#120;130mm尺寸可选
操作台承重量
10kg
操作辅助
自动/手动
图像处理软件
X射线检测图像软件，图像增、测量；
设备尺寸长x宽x高
1360mmx800mmx700mm
电脑系统:
windows10；联想21/25吋
仪器重量:
380kg
适配器输出电压
DC24V
交流电源频率:
5060hz；
远程控制:
远程操作软件
